時(shí)代涂層測厚儀探頭
涂層測厚儀可選附件-探頭
F1探頭
F1探頭是涂層測厚儀磁性法測量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT260涂層測厚儀的標(biāo)配探頭。
| 測頭型號 | F1 |
| 工作原理 | 磁感應(yīng) |
| 測量范圍（um） | 0-1250 |
| 低限分辨力(um) | 0.1 |
| 示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[3%H+1] |
| 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[(1～3)%H+1] |
| 測量條件 | *小曲率半徑(mm) | 凸1.5 |
| 基體*小面積的直徑(mm) | ф7 |
| *小臨界厚度(mm) | 0.5 |
| 探頭尺寸（mm) | ф12X47 |
N1探頭
N1探頭是渦流法涂層測厚儀測量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT260覆層測厚儀的標(biāo)配探頭。
| 測頭型號 | N1 |
| 工作原理 | 電渦流 |
| 測量范圍（um） | 0-1250(銅上鍍鉻0-40um) |
| 低限分辨力(um) | 0.1 |
| 示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[3%H+1.5] |
| 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[(1～3)%H+1.5] |
| 測量條件 | *小曲率半徑(mm) | 3 |
| 基體*小面積的直徑(mm) | ф5 |
| *小臨界厚度(mm) | 0.3 |
| 探頭尺寸（mm) | ф15X73 |
F1/90探頭
TT260覆層測厚儀選配F1/90探頭，主要用于管材內(nèi)壁的涂層厚度測量。它細(xì)長的身形可以輕松的深入其它探頭無法到達(dá)的細(xì)管中。夾層和細(xì)縫中的涂層厚度測量也是它的拿手好戲。
| 測頭型號 | F1/90 |
| 工作原理 | 磁感應(yīng) |
| 測量范圍（um） | 0-1250 |
| 低限分辨力(um) | 0.1 |
| 示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[3%H+1] |
| 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[(1～3)%H+1] |
| 測量條件 | *小曲率半徑(mm) | 平直 |
| 基體*小面積的直徑(mm) | ф7 |
| *小臨界厚度(mm) | 0.5 |
| 探頭尺寸（mm) | 7.5X11X200 |
F10探頭
TT260涂鍍層測厚儀選配F10探頭，測量范圍由標(biāo)配的0-1250um擴(kuò)展至0-10000um，主要用于大厚度的涂層測量。
選配F10探頭還應(yīng)增配2000um、4000um、8000um的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片，用于校準(zhǔn)儀器。
| 測頭型號 | F10 |
| 工作原理 | 磁感應(yīng) |
| 測量范圍（um） | 0-10000 |
| 低限分辨力(um) | 10 |
| 示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[3%H+10] |
| 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[(1～3)%H+10] |
| 測量條件 | *小曲率半徑(mm) | 10 |
| 基體*小面積的直徑(mm) | ф40 |
| *小臨界厚度(mm) | 2 |
| 探頭尺寸（mm) | ф27X47 |
F400探頭
TT260涂鍍層測厚儀選配F400探頭，主要用于較薄厚度的涂層測量，可獲得測量結(jié)果和更高的重復(fù)性，
另外在管材基體直徑較小或者被測區(qū)域接觸面積較小時(shí)
| 測頭型號 | F400 |
| 工作原理 | 磁感應(yīng) |
| 測量范圍（um） | 0-400 |
| 低限分辨力(um) | 0.1 |
| 示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[3%H+1] |
| 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[(1～3)%H+0.7] |
| 測量條件 | *小曲率半徑(mm) | 凸 1 |
| 基體*小面積的直徑(mm) | ф3 |
| *小臨界厚度(mm) | 0.2 |
| 探頭尺寸（mm) | ф12X55 |
CN02探頭
TT260漆膜測厚儀選配CN02探頭，主要用于測量線路板上的銅箔厚度，檢測范圍在10-200um之間。
| 測頭型號 | CN02 |
| 工作原理 | 電渦流 |
| 測量范圍（um） | 10-200 |
| 低限分辨力(um) | 1 |
| 示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±[3%H+1] |
| 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | - |
| 測量條件 | *小曲率半徑(mm) | 平直 |
| 基體*小面積的直徑(mm) | ф7 |
| *小臨界厚度(mm) | 無限制 |
| 探頭尺寸（mm) | ф16X67 |
關(guān)鍵字：
膜厚儀,涂層測厚儀,測厚儀,涂層測厚儀探頭,覆層測厚儀 
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